カテゴリー 【イデオン 】
2007-04-09 Mon
デジタル一眼になってからは測光方式をあまり気にかけなくなってしまった。
フィルムの時はスポット測光を使用することが多かった。
２０ｄではスポット測光という呼称ではなく部分測光というものになっている。
おそらく似たようなものなのだろうがよくわからないので使わないままになってしまっている。
デジの場合は後でRaw現像の時等に補正できるという事もあり、評価測光でだいたい対応できる。もちろん撮影時は露出補正で対応しており、この２段構えでほぼ間に合うのです。
あ！もうひとつ。デジの場合は何枚撮ってもお金がかからないので数撃ちゃ当たる方式も採用。
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それでも、この写真のように２ＥＶの露出補正では対応しきれない場合は部分測光を使わざるを得ない。
【EF50mm f1.4 AV優先 F3.2 1/40sec 部分測光 +2補正 ISO400】
ところがＭＦにすると、ＡＦならシャッター半押しでできる測光ロック。
これが効かないようですね。初めて知りました。
とりあえずＡＦフレームボタンを押すと測光ロックできるのがわかったがレリーズまで対応していないようなのでシャッターとこのボタンを一緒に押すしかないようだ。
カスタムファンクション等の設定でもっとやりやすくなるのだろうが、当面はこれで十分です。
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さりげなくお見せしましたが、写真はトランクルームに秘蔵されていた例の第６文明人の遺跡です
